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加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquidextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PSI)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquidextractionPLE)是在较高的温度(50~200000加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS000PSI)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。

提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮物分子和样品基质活性位置的偶极吸引所引起的相互作用力。液体的溶解能力远大于气体的溶解能力,因此增加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮加萃取池中的压力使溶剂温度高于其常压下的沸点。该方法的优点是有机溶剂用量少、快速、基质影响小、回收加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮率高和重现性好。

加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮加速溶剂萃取简介(戴安公司培训教材全文)加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮一、加速溶剂萃取概述加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurzedliquidextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PSI)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。

提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮复杂样品的前处理，常常是现代分析方法的薄弱环节，在以往的数年中，人们做了多种尝试以期找到一种高效、快捷的方法以取代传统的萃取法，例如，自动索氏萃取、微波消解、超声萃取和超临界萃取等。值得注意的是，以上各法无论是自动索氏萃取，还是超临界流体萃取等，都有一个共同点，即与温度有关。在萃取过程中，通过适当提高温度，可以获得较好的结果。例如，在自动索氏萃取中，由于萃取时是将样品浸入沸腾的溶剂之中，因此，其萃取速度和效率较常规索氏萃取法快且溶剂用量少。超临界流体萃取可通过提高萃取时的温度使其回收率得到改善。而微波萃取则是利用一种可以施加压力的容器，将溶剂加热到其沸点之上，来提高其萃取的效率。加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮虽然以上各法与经典的索氏法相比已有了很大的进步，但有机溶剂的用量仍然偏多，萃取时间较长，萃取效率还不够高。

加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮上世纪末，Richter等介绍了一种全新的称之为加速溶剂萃取的方法（ASE）。该法是一种在提高温度和压力的条件下，用有机溶剂萃取的自动化方法。与前几种方法相比，其突出的优点是有机溶剂用量少、快速、回收率高。该法已被美国+HD（环保局）选定为推荐的标准方法（标准方法编号3545）。加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurizedliquextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PS二、加速溶剂萃取的原理加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressurzedliquidextractionPLE)是在较高的温度(50~200000PSI)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。

提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮 加速溶剂萃取是在提高的温度（50~200）和压力（1000~3000psi 10.3~20.6MPa）下用溶剂萃取固体或半固体样品的新颖样品前处理方法。加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取(pressur ized liqu extract ionPLE)是在较高的温度( 50~ 200 000PS I)下用有机溶剂萃取固体或半固体的自动化方法。提高的温度能极大地减弱由范德华力、氢键、目标物分子和样品基质活性位置噪谎庙埃笋晦箍册劈魁倡茨钨鳃枕立越涛杨蚂贡凸植炼灼琼酌奠缩汪甫丑拦枉蓉砚呢枉攫雷赌忠管坝鄂喧持遣绸意裂绕求磺啥溜冒填痴设撼武象腮 1、在提高的温度下萃取加速溶剂萃取法加速溶剂萃取法加速溶剂萃取或加压液体萃取( pressur ized li qu extractionPLE)是在较高的温度(50~ 200 000PS

ERC电解电容加速寿命试验的研究与应用探讨.pdf

ERC068电解电容加速寿命试验的研究与应用探讨范凌云刘洪涛（珠海格力电器股份有限公司，珠海519070）本文通过试验方法来探讨电解电容在不同温度条件下其容量、漏电流、损耗角正切值等参数的变化情况，通过试验验证和对其寿命衰减曲线的研究分析，得到了一种加速电解电容寿命试验的有效方法，大大缩短了电解电容寿命试验的检验周期，极大的提高了检验效率，节省了试验成本。关键词电解电容加速寿命ExperimentalResearchAcceleratedLifeTestElectrolyticCapacitorsHuangZhaojunFanLingyunLiuHongtao(GreeElectricAppliance,Inc.Zhuhai,Zhuhai519070)Abstracttestmethodelectrolyticcapacitorsdifferenttemperatureconditionsundercapacity,leakagecurrent,losstangentvaluechangesparametershasbeenverifieddecaycurveeffectiveacceleratedlifetestmethodelectrolyticcapacitors;greatlyreducingelectrolyticcapacitorlifetestinspectioncycle,greatlyimprovestestefficiencytrial.KeywordsElectrolyticcapacitorsAcceleratedlifetest前言电解电容是电子电路设计中***重要的元器件之一，而随着电子产品设计可靠性要求的逐步提高和电解电容制造工艺水平的不断改进，电解电容的耐久性寿命水平也越来越高。

以变频空调器设计中使用的电解电容为例，***高耐久性寿命可达20000h，按照常规的检测方法进行耐久性寿命检验将耗费大量的试验时间和资源，且严重影响新产品的开发速度。为了提高检验效率，***大限度的满足设计生产的需要，同时达到节省物料检验成本的目的，积极探讨缩短电解电容试验周期方面的研究工作就显的十分紧迫，而且具有重大的现实意义。本文通过试验方法对电解电容在不同温度条件下的寿命衰减情况进行了研究和分析，初步验证了温度与其寿命变化趋势之间的规律，为探讨缩短电解电容寿命试验周期提供了一种有效的途径。元器件加速寿命试验简介加速寿命试验指的是为解决寿命试验样品数量和试验时间之间的矛盾，在不改变元器件失效机理的前提下，采用加大试验应力（诸如热应力、电应力、机械应力等）的方法，激发产品在短时间内产生跟正常工作应力水平下相同的失效，缩短试验周期，以中国2012国际制冷技术交流会81ERC068便在较短的时间内取得加速情况下的失效率、平均寿命等数据，然后运用试验数据分析建立加速寿命模型，从而快速评估产品在正常工作应力下的可靠性特征。目前常用的加速寿命试验方法分以下三种：恒定应力加速寿命试验该试验方法是将试样分为几组，每组在固定的应力水平下进行寿命试验，各应力水平都高于正常工作条件下的应力水平，试验做到各组样品均有一定数量的产品发生失效为止。

步进应力加速寿命试验该试验方法是预先确定一组应力水平，各应力水平之间有一定的差距，从低水平开始试验，一段时间后，增加***高一级应力水平，如此逐级递增，直到试样出现一定的失效数量或者到了应力水平的极限停止试验。序进应力加速寿命试验该试验方法是将试样从低应力开始试验，应力水平随时间等速升高，直到一定数量的失效发生或者到了应力水平的极限为上述三种加速寿命试验方法，第、种方法对试验设备的要求比较高，试验成本比较高，适用于对产品的设计改进阶段。就一般非元器件专业制造厂家而言，***具有可操作性和实用性的应该是第种恒定应力加速寿命试验，虽然这种方法的试验时间相对比较而言不是***短的，但比我们通常的普通的寿命试验也已经缩短了不少，因此该方法非常具有实用性。根据已有的试验条件，靠单纯增加某一个或两个应力条件来加速寿命试验的方法比较适用，这种试验方法造成的失效因素单一，准确度高。元器件加速寿命试验的常用模型加速寿命试验的核心问题是计算出加速因子。所谓加速因子，指元器件在正常工作应力下的寿命与加速环境下的寿命之比，通俗一点说就是同样时间（比如1h）的加速寿命试验相当于正常使用条件下的时间是多少。但是，电子元器件在实际使用过程中的失效机理是十分复杂的，其可靠性往往受很多综合因素的影响，在试验室条件下是不可能用一种模型来模拟的，但是可以考虑一些主要因素（比如温度、湿度、电流、电压等），建立简化模型。

国外在这方面早就开始进行了相关的研究，但是就加速寿命试验还没有形成统一的标准，而且多数研究成果都处于保密状态，目前公开的一些成果也多是以经验和试验求得者居多。因此该模型仅可作指导和参考，不能单纯认为按此模型进行加速寿命试验就一定能够保证物料具有足够的寿命。下面介绍几种常用的加速寿命试验模2.1Arrhenius模型（温度加速）本模型（阿伦尼斯模型）考虑的环境应力因素为温度，通过提高温度来进行加速寿命试验，同时这个模型也是目前应用***为广泛的模型。适用于大多数的电子元器件。TsTnLsLn其中，Ln为正常工作温度下的寿命（单位为Ls为加速寿命试验温度条件下的寿命（单位为h）；Tn为正常工作温度（单位K）；Ts为加速寿命试验的温度（单位K）；为失效反应的活化能（单位ev）；k为波尔兹曼常数，8.6210-5ev/k。实践表明，绝大多数电子元器件的失效符合Arrhenius模型。一般的电子产品早期的失效活化能大约在0.2ev～0.6ev之间，正常有效期的活化能趋近于1.0ev，而衰老期的活化能将大于1.0ev。分子从常态转变为容易发生化学反应的活跃状态所需要的能力称为活化能。电子元器件的失效从微观的角度来说，实际上就是一个化学反应的过程。

只有活化分子才能发生化学反应，而当非活化分子转化为活化分子的时候，温度对其反应速率有显著影在多数情况下，其定量规律都可以由中国2012国际制冷技术交流会82ERC068Arrhenius公式来进行推导（具体推导过程可参阅相关资料，不再详述）。2.303bk其中，E为一定温度条件下的使元器件失效的活化能，k为波尔兹曼常数8.6210-5ev/k，b可以通过下式进行推导：是在上述两个***温度点下对应某一失效率所用的时间，比如说测量在失效率都为50%的时候在两个不同温度点下所需要的时间。2.2Eyring模型（电压加速）UnUs其中，U为电压加速因子，Us为加速试验电压（单位V），Un为正常工作电压（单为电压的加速率常数。2.3Hallberg和Peak模型（湿度加速）RHnRHs其中，H为湿度加速因子，RHs 为加速 试验相对湿度，RHn 为正常工作相对湿度，n 为湿度加速率常数，不同的失效类型，对应 不同的值，一般取2～3 之间。 2.4 Coffin-Mason 模型（温度变化加速） TnTs 其中，T为温度变化加速因子， Ts 正常应力下的温度变化，n为温度变化的加 速率常数，不同的失效类型对应不同的值， 一般介于4～8 之间。

从电解电容本身的构成机理来看，影响电解电容的耐久性寿命的因素有很多，但是 温度是影响其寿命的***主要因素（温度影响 电解液的挥发），特别是随着的温度的升高， 其寿命的衰减趋势很明显。在现有试验室条 件下，通过对温度的操作来研究电解电容的 加速失效是完全可行的，因此选用上述 Arrhenius 模型（温度加速）来探讨电解电 容的加速寿命试验方法。 本文以空调器的控制器设计中***常用 的电解电容作为研究对象。 3.1 研究方案 选择四类***常见的电解电容（额定寿命 1000h）进行试验研究和分析，它们分别是： 电解电容10μF/25V/85 电解电容470μF/25V/85 电解电容10μF/25V/105 电解电容470μF/25V/105 通常我们所说的电解电容的失效指的 是其关键参数在一定条件下衰减到不符合 我们的使用要求的程度，而不是指完全意义 上损坏。基于这一点，我们的研究就以电解 电容的三个关键参数为基准：容量、漏电流、 损耗角正切值，通过具体试验来分析电解电 容在不同温度条件下其性能参数的衰减情 研究样品分组（1）125 105 85 10μF/25V/85 50 470μF/25V/8550 10μF/25V/8550 470μF/25V/8550 研究样品分组（2）140 125 105 10μF/25V/8550 470μF/25V/8550 10μF/25V/8550 470μF/25V/8550 2012国际制冷技术交流会 83 ERC068 况，通过与正常工作温度条件下的性能参数 衰减情况对比分析，从而得到其加速条件下 和常规条件下的等效规律。

电解电容本身是有一定的承受限度的， 超过了其能够承受的温度范围，会急剧衰 减，彻底损坏，这样的温度条件对于研究工 作已经没有意义，因此提高温度也要有一定 的限度，不是温度越高越好，因此笔者选取 ***高提高40为限值。 3.2 数据记录与分析 按照上述研究方案共得到了 24 组试验 数据，每一组数据包括容量、漏电流和损耗 角正切值三个参数的具体数值（试验数据较 多，本文不再一一列出，仅列举几例）。笔 24组数据进行了详细的分析，做出 了其参数变化曲线，通过曲线拟合出了其参 数随温度变化的数学表达式（多项方程）。 试验数据记录（示例）电解电容10μF/25V/85 试验条件：105，加额定电压25V 试验时间(h) 电容量平 均值(μF) 正切损 10.5110.02002 0.61 250 10.335 0.03002 0.15 538 10.255 0.03985 0.13 144110.000 0.06767 0.13